『壹』 XRD精修測試條件怎麼設置
步進掃描，0.02度每秒，每步時間1秒+，高角度很重要，最好2theta掃到140度。
『貳』 有同學會用JADE進行XRD精修嗎，需要
本人在此請教一個關於用jade5對材料結構進行精修問題：問題1：精修過程，怎麼把擬合做好，特別是手動擬合？能在擬合過程中增減衍射峰嗎？問題2：擬合到什麼樣的程度算是合理？（也就是說有沒什麼原則，呵呵。）歡迎指點！ :(我把問題具體化吧，我是看了黃老師的教程開始做擬合的，但是每次擬合都會彈出衍射峰太多，沒法擬合的窗口，然後我就進行人工擬合了，但是R值沒法擬合到5%以下，所以我想請教下，應該更好的擬合。幫幫忙啊，各位大俠。
『叄』 求問【求助】做結構精修的XRD測試參數如何設置呢
比如5－120度以上，銅靶0.02， 每步停留10s以上。
結構精修是指，用一張高質量的譜圖擬合，驗證你的結構模型正確。正確的衡量標準是溫度因子和鍵長，鍵角合理，鍵價接近理論值。
如果連一張譜圖都不符合標准，後續的分析工作就是浪費時間。
:)盡量角度大。比如5－120度以上，銅靶0.02， 每步停留10s以上。
結構精修是指，用一張高質量的譜圖擬合，驗證你的結構模型正確。正確的衡量標準是溫度因子和鍵長，鍵角合理，鍵價接近理論值。
如果連一張譜圖都 ... 支持:D
不是啊 軟體不是中文的 這只是我們申請機時的通道 哈哈，碰到同學了。
『肆』 XRD實驗樣品如何製作
XRD衍射試樣可以是金屬、非金屬的塊體、片體或者粉末。 對於塊狀、板狀、圓柱狀樣品，必須將其磨成一個平面，面積不能小於10*10mm。如果面積太小可以用幾塊粘貼在一起。 如果是片狀、圓柱狀樣品可能會存在嚴重的擇優取向，衍射強度異常，給定性定量分析帶來麻煩。因此測試時應該合理選擇響應的方向平面。 對於測量金屬樣品的微觀應力（晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求樣品不能簡單粗磨，要求制備成金相樣品，並進行普通拋光或電解拋光，消除表面應變層。 對於薄膜樣品，需要特別注意薄膜的厚度。由於XRD分析中X射線的穿透能力較強，所以適合比較厚的薄膜樣品的分析，X射線測量的膜厚度約20個納米。此外，樣品應該有較大的面積，薄膜比較平整，表面粗糙度小。 對於纖維樣品的測試應該提出測試纖維的照射方向，是平行照射還是垂直照射，因為取向不同衍射強度也不相同。 對於焊接材料，如斷口、焊縫表面的衍射分析，要求斷口相對平整，提供斷口所含元素。如果一個斷口照射面積小則可用兩個或三個斷口拼起來。 粉末樣品制備通常分為兩步，首先需把樣品研磨成適合衍射實驗用的粉末，然後，把樣品粉末製成有一個十分平整平面的試片。 粉末樣品要求磨成320目的粒度，大約40微米（如果需要做結構精修，樣品需磨成10微米左右）。如果粒度粗太大衍射強度底，峰形不好，解析度低。如果樣品太細，小於100nm以下，容易造成衍射峰寬化。 要了解樣品的物理化學性質，如是否易燃，易潮解，易腐蝕、有毒、易揮發，以免污染X射線衍射儀樣品台或者帶來其他危害。 粉末試樣用粘接劑調和後填入試樣架凹槽中，使粉末表面刮平與框架平面一致。 粉末樣品要求大約1-2克，如果太少也需5毫克。 對於樣品量比較少的粉體，一般可採用分散在膠帶紙上黏結或者分散在石蠟油中形成石蠟糊。所使用的膠帶注意是本身對X射線不產生衍射。 附：常用篩網目數與粒徑對照表
『伍』 xrd分析方法和步驟
你好
1、在衍射儀獲得的XRD圖譜上，如果樣品是較好的"晶態"物質，圖譜的特徵是有若干或許多個一般是彼此獨立的很窄的「尖峰」。
2、如果這些「峰」明顯地變寬，則可以判定樣品中的晶體的顆粒尺寸將小於300nm，可以稱之為"微晶"。
3、Scherrer (1918)揭示了衍射峰的增寬是對應晶面方向上的原子厚度(層數)不足以在偏離Bragg條件下相干減弱(destructivelyinterference)衍射峰。 當衍射峰寬度增加到接近其高度時(或高度下降到接近其寬度時), 可認為樣品是非晶。
4、同一物質的話，峰窄說明晶粒比較大，和結晶度無關。同一台儀器測試且測試條件相同的情況下，峰高的比較多才能說明結晶情況較好。
(5)xrd數據精修需要什麼擴展閱讀
1、晶態物質對X射線產生的相干散射表現為衍射現象，即入射光束出射時光束沒有被發散但方向被改變了而其波長保持不變的現象，這是晶態物質特有的現象。絕大多數固態物質都是晶態或微晶態或准晶態物質，都能產生X射線衍射。
2、晶體微觀結構的特徵是具有周期性的長程的有序結構。晶體的X射線衍射圖是晶體微觀結構立體場景的一種物理變換，包含了晶體結構的全部信息。用少量固體粉末或小塊樣品便可得到其X射線衍射圖。
3、晶態物質組成元素或基團如不相同或其結構有差異，它們的衍射譜圖在衍射峰數目、角度位置、相對強度次序以至衍射峰的形狀上就顯現出差異。
4、因此，通過樣品的X射線衍射圖與已知的晶態物質的X射線衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結構的定性鑒定；通過對樣品衍射強度數據的分析計算，可以完成樣品物相組成的定量分析。
『陸』 XRD粉末衍射做結構精修對譜圖有什麼要求，請教各位
怎麼通過XRD圖譜判斷是什麼物質
角度θ為布拉格角或稱為掠射角.關於XRD的測量原理比較復雜,要知道晶體學和X射線知識.簡單的來說（對粉末多晶）：當單色X射線照射到樣品時,若其中一個晶粒的一組面網（hkl）取向和入射線夾角為θ,滿足衍射條件,則在衍射角2θ（衍射線與入射X射線的延長線的夾角）處產生衍射.
但在實際應用中,我們只需用儀器做出XRD圖譜,然後根據pdf卡片來知道所測物質的種類,和結構.pdf卡片是X射線衍射化學分析聯合會建立的物質的衍射資料庫.他們制備了大量的物質,使用者只要把自己的圖譜和標准圖譜對比就能知道自己的物質種類及結構.隨著計算機技術的發展,現在都是通過導入研究者測試得到的XRD圖譜,電腦軟體（如Jade）通過匹配度尋找與之比配的pdf卡片,很方便.
在XRD中,不僅可以定性得到物質的種類,相結構.而且可以通過謝樂公式得到晶粒尺寸以及通過精修手段得到晶胞常數.
『柒』 rietveld 精修 xrd有什麼要求
需要譜圖掃的慢些。
『捌』 xrd精修怎麼把raw文件轉化成gsas文件
XRD測出的數據RAW用mdi jade打開。1、打開MDI Jade，進入主窗口，選擇菜單File，打開讀入文件的對話框；2、雙擊RAW文件，讀入主窗口即可。RAW圖像就是CMOS或者CCD圖像感應器將捕捉到的光源信號轉化為數字信號的原始數據。
『玖』 怎麼可以通過xrd分析礦物純度很高
一、分析方法：1、數據的輸入Jade軟體可以直接讀取Rigaku、Bruker、Philips、Scintag等很多衍射儀的原始數據。打開File\patterns,將出現如附件中所示畫面，先（I）找到你文件位置，從（III）的下拉框中選擇你的數據格式，按（II）選擇。很多儀器輸出文件的格式都是*.raw,實際上都是不一樣的，但格式選錯了也沒關系，軟體會給你自動轉到合適的格式中去的。高級一點的：有一些數據格式在（III）的下拉框中沒有，比如最常見的txt，xy等，此時你可以自己動手設置，在以上的數據輸入面板中，點擊工具欄上的「import",進入格式設置畫面，如附件所示，a區為注釋區，b區為數據格式區，對於最簡單的一列角度，一列強度的數據格式，a區不用填寫，b區在」anglecolumn「前打上勾，數據從第1行開始讀，每行1列數據，強度數據從第8行開始（角度不算），角度從1至6列，所得數據格式即為附件中所示的數據格式。你也可以按照自己的數據格式進行自由改動，如果a區中表明第1行有說明文字，則數據從第2行讀入，相應在b區就將datastarts改成2。做完上面的工作後，將文件後綴改為你的數據後綴（箭頭所指），再將該格式保存下來便可大功告成了。2基本功能使用：平滑，扣背底一張XRD圖譜出來，往往因為有空氣散射，漫散射，熒光以及樣品結晶差等等原因而造成圖譜上存在許多「毛刺」和較高的背底，雖然提高X光強度能成倍提高信噪比，然而有時受儀器和樣品所限，這兩項功能需要用到。但根據我個人的經驗，要盡量少使用平滑和扣背底，因為這兩項操作帶來的可能後果就是將一些微弱的有用信息一概抹掉了，特別注意的是，如果將數據用來做Rietveld精修，更不要進行這兩項操作。當然，如果是將圖譜列印出來給別人看，適當進行平滑和扣背底也是個不錯的選擇。3尋峰和峰型擬合在尋峰之前最好用標樣校正過2theta值，這些都是儀器操作人員的事情，我就不說了。打開analyze/findpeaks，或右鍵單擊快捷工具欄中的圖標。出現一個懸浮框，在「search」裡面可以對尋峰的判據進行設置，大家可以改動不同的限制條件，然後按「apply」看看有什麼變化。在「Label」裡面主要是可以選定標注的內容，如d值，2theta值，半峰寬，強度等，這些大家多試幾次就OK了。如果要將尋峰結果列出，按下「report」即可。也可以自己手動直接在圖譜上標峰，大家可以看到有一個懸浮式快捷編輯框「edittoolbar」，左鍵點擊第3個圖標。然後就可以直接在峰頂標注，如果同時按住「Ctrl」鍵，則可以在圖譜的任何位置上進行標注。如果要去掉某個峰的標注，則用滑鼠將豎線拖到與峰的標注線重疊，出現紅顏色之後點擊右鍵即可。如果要刪除所有的峰的標注，在窗口中點擊右鍵，選定」Eraseall」即可。4峰型擬合如果要得到精確的峰型，峰位信息，一般都要經過峰型擬合，JADE提供了單峰擬合的功能。在峰型擬合前不要進行平滑和扣背底，也不主張預先自動尋峰。就像前面一位朋友說的，對於重疊峰的分離比較有難度，也可能會導致軟體「罷工」（我也遇到過這種情況），但對於多數人來說，峰型擬合就等同於分峰，因此面對重疊峰是不可避免的，我的建議是高角度的峰舍棄，並且分峰要一小段接一小段地進行（背底嚴重的除外）。二、XRD測的簡單介紹：XRD即X-raydiffraction的縮寫，X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。X射線是一種波長很短(約為20～0.06埃)的電磁波，能穿透一定厚度的物質，並能使熒光物質發光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬「靶」產生的X射線中,包含與靶中各種元素對應的具有特定波長的X射線，稱為特徵（或標識）X射線。